摘要: 叙述了一种专供多光谱扫描仪试验用的低温解冷系统.系统采用可拆卸的真空杜瓦结构和温度可控的开式 J—T 节流制冷循环.降温速度快、无污染、无振动,探测元件及其引线的检修方便,能在45分钟之内为多光谱扫描仪探测元件提供所需的真空低温条什.最低制冷温度达83.5K（制冷置0.86瓦）,稳定真空度1.73×10^-3帕,温控范围,84K—190K,精度好于±0.2K.