摘要: 研究了电子贮存环中由于同步辐射产生的动态出气。其主要形式是氢和一氧化碳.原位烘烤不能减少动态气体脱附。其原因是烘烤仅清洁真空容器表面,而不能清除表面与基体之间被污染的边界层。